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X射线膜厚仪

外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:50KG 

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

一次可同时分析最多24个元素,五层镀层

分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

多次测量重复性可达0.1%

长期工作稳定性可达0.1%

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

X射线膜厚仪
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X射线膜厚仪

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